PCB镀层膜厚仪在技术上一直以来都于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。可同时完成镀层厚度测量和材料性能测试,具有数据采集和测量数据处理能力，是一台结构小巧且适,是一款范围广泛的多功能桌上测量系统。它既可以用来进行样品来料检验，也可以用于过程控制和对产品线进行24小时地监控。有为不同样品几何形状和测量范围而设计的各式各样的探头可供选择。
PCB镀层膜厚仪不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13铝到Z＝92（铀），固定、浆状及液体的样本也可以测量，即使是极小不规则形状的测量面积也可快速、免接触的测量。PCB镀层膜厚仪只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
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