合金镀层测厚仪在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-μ可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构.具有强大功能的带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。
合金镀层测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪.适合无损测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板.其比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量.为了使每次测量都能在的条件下进行,仪器配备了可电动调整的多个准值器及基本滤片.无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量.并且有着良好的长期稳定性,不用经常佼准仪器,可节省时间。
合金镀层测厚仪典型的应用领域有:
1.测量大规模生产的零部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板
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合金镀层测厚仪--金霖厂价出售