X射线光谱仪/测金仪在技术上一直以来都于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
X射线光谱仪/测金仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。使用WinFTMV6操作软件能更简单,快速测量样品.而WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件。
X射线光谱仪/测金仪运用的WinFTMV6,可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单操作及准确的分析结果，所以便能够提升生产力。
WinFTMV6还有以下的特色……
特大屏幕能提供画中画显示分析结果，光谱及彩色影像图，图像亦可以用JPG格式储存。
仪器能同时间分析最多24种不同的元素；根据可检定的元素范围由x ppm到，所以原子序号可由氯Cl=17）到铀（Uranium Z=92）。
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