美国博曼台式膜厚仪采用数学计算方法和的FP（Fundamental Parameter）、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,创新的高科技X-射线技术的支持，可对膜层厚度，进行非破坏式的测量，符合标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多至4层镀层的样品也一样能胜任.
博曼台式膜厚仪采用的测量法特点有以下几种：
1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。台式膜厚仪即使是极小不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。
博曼台式膜厚仪综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度台式膜厚仪(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,台式膜厚仪方便有效的控制品质.
膜厚仪分为分为磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪，台式膜厚仪
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